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瑞凯_高低温试验箱_恒温恒湿试验箱_冷热冲击试验箱
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HAST设备

HAST设备

产品特点:

可定制BIAS偏压端子组数,提供产品通电测试

通过电脑安全便捷的远程访问

多层级的敏感数据保护

便捷的程序入口、试验设置和产品监控

试验数据可以导出为Excel格式并通过USB接口进行传输

可提供130℃温度、湿度85%RH和230KPa大气压的测试条件

服务热线: 400-088-3892
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产品概况 / Introduction

产品 · 详情product details

HAST

设备用途Equipment use

HAST设备用于评估非气密性封装IC器件、金属材料等在湿度环境下的可靠性。通过温度、湿度、大气压力条件下应用于加速湿气的渗透,可通过外部保护材料(塑封料或封口),或在外部保护材料与金属传导材料之间界面。它采用了严格的温度,湿度,大气压、电压条件,该条件会加速水分渗透到材料内部与金属导体之间的电化学反应。失效机制:电离腐蚀,封装密封性。


准时交货准时交货率高达99% 马上咨询

产品 · 特点Product features

  • 设计三种控制模式

    不饱和控制(干湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制。

  • 安全多重保护功能

    各种超压超温、干烧漏电及误操作等多重人机保护;

  • 稳定可带电测试

    可定制BIAS偏压端子组数,提供产品通电测试;

  • 选择湿度自由选择

    饱和(100%R.H湿度)与非饱和(75%R.H湿度)自由设定;

  • 智能智能化高

    支撑电脑连接,
    利用USB数据、
    曲线导出保存

HAST高压加速老化试验箱

HAST试验箱参数规格


    满足测试标准

    GB-T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热
    IEC 60068-2-66-1994 环境试验 第2-66部分:试验方法 试验Cx:稳态湿热(不饱合加压蒸汽)
    JESD22-A100 循环温湿度偏置寿命
    JESD22-A101 THB加速式温湿度及偏压测试
    JESD22-A102 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮
    JESD22-A108 温度,偏置电压,以及工作寿命(IC寿命试验)
    JESD22-A110 高加速温湿度应力试验(HAST)
    JESD22-A118 加速水汽抵抗性--无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)等

    举例:

    适用范围:  该试验检查芯片及其他产品材料长期贮存条件下,高温和时间对器件的影响。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HAST测试需求,仅针对非密封封装(塑料封装),带偏置(bHAST)和不带偏置(uHAST)的测试。
    温度、湿度、气压、测试时间
    ? 通常选择HAST-96,即:130℃、85%RH、230KPa大气压,96hour测试时间。 
    ? 测试过程中,建议调试阶段监控芯片壳温、功耗数据推算芯片结温,要保证结温不能过 高,并在测试过程中定期记录。结温推算方法参考《HTOL测试技术规范》。
    ? 如果壳温与环温差值或者功耗满足下表三种关系时,特别是当壳温与环温差值超过 10℃时,需考虑周期性的电压拉偏策略。
    ? 注意测试起始时间是从环境条件达到规定条件后开始计算;结束时间为开始降温降压操 作的时间点。

    电压拉偏

    uHAST测试不带电压拉偏, 不需要关注该节;
    bHAST需要带电压拉偏 ,遵循以下原则:
    (1) 所有电源上电,电压:最大推荐操作范围电压(Maximum Recommended Operating Conditions)
    (2) 芯片、材料功耗最小(数字部分不翻转、输入晶振短接、其他降功耗方法);
    (3) 输入管脚在输入电压允许范围内拉高。
    (4) 其他管脚,如时钟端、复位端、输出管脚在输出范围内随机拉高或者拉低;

HAST设备

HAST设备生产厂家

HAST高压加速老化试验箱合作案例

生产 · 实力Productive strength

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